一、SEM：Scanning Electron Microscope   (JSM-5600)                  

二、XRD：X-Ray Diffractometer

(XRD-6000)                 

三、PL   ：Photo Luminescence

(ARC, SP-300 i)             

四、AFM：Atomic Force Microscope          (SEIKO, NPX100)                 

五、RAMAN：Atomic Force Microscope       (SEIKO, NPX100)    

六、TGA / DTA：Thermo Gravimetric Analyzer (PERKIN ELMER, STA6000 ) 　              貳、服務時間：
               每週一至週五（早上9時至1時。

               下午13時至16時。每次3小時為1單

                位） 。周五下午為機器保養時段不

               開放使用。   　           

           參、服務項目：
             如使用申請記錄表。  　                           肆、收費標準：
             如使用申請記錄表。  　          

           伍、使用方式：
               1.應在使用前一星期向本實驗室 

                    助 教預約使用時間，並詳細填寫

                    使用申請記錄表， 預約SEM每次

                    以一個單位（3hr）為原則。                                

               2.登記使用者因事不能上機時、請

                     勿自行轉讓，若超過預約30分鐘

                     以上而未事先通 知者， 視同放棄

                     權利，由本實驗室通知遞補者使

                     用。

                3.實驗前請先將樣品製成標準規格

                   （10mm× 10mm ×5mm以內），

                     實驗樣品、檔案資料 之保管、保

                     存請自行負責，檔案資料統一

                     使用精密儀器中心之空白磁片為

                     主。

                4.進入實驗室請勿碰觸未經允許使

                      用之儀器 ，實驗後請將個人物品

                      帶離實驗室。